“瑞”意进取与“质”同行

2018/8/23 14:18:00

——天瑞仪器携质谱系列产品盛装亮相BCEIA

“第十六届北京分析测试学术会暨展览会”（简称：BCEIA）于2015年10月27日在北京国家会议中心隆重开幕，本次大会由中华人民共和国科学技术部批准，中国分析测试协会主办。两年一度的BCEIA，是国内分析测试行业内度及度的盛会。

大会现场

开展天天瑞仪器就受到了行业、学者、同行及现场客户的高度关注。天瑞仪器董事长刘召贵博士、总经理应刚先生率公司团队亲临现场，与来访者进行交流互动。

天瑞仪器展台现场

董事长刘博士与来访客户现场交流

总经理应刚先生与来访进行现场交流

天瑞仪器质谱事业部总经理周立博士与客户现场交流

天瑞仪器光谱事业部总经理韦大纶与客户现场交流

本次展品亮点多多，天瑞仪器全面展示了近两年公司在新产品研发、产品升级、行业应用、解决方案制定等方面取得的丰硕成果。

天瑞质谱家族的新成员基质辅助激光解析-飞行时间质谱仪MALDI-TOF首次亮相展会，就成为了展台现场的关注焦点，作为中国首款具有完全自主产权的商品化基质辅助激光解析/离子源-飞行时间质谱仪，Micro TyperMS的诞生开启了国产生物质谱的新时代；历经3年市场磨砺，2015年全新推出的ICP-MS 2000E，拥有全新的碰撞反应池功能、新型离子源设计、高效准确的自动进样器、软件集成应用分析包，极大的提升了仪器整体性能指标和性价比；备受业界广泛认可的气相色谱质谱联用仪GC-MS 6800，在食品、纺织、RoHS、环境等多个领域的定制方案，更贴心的为客户提供的一站式解决方案；国产化的GC-TOFMS系列iTOF-1G、iTOF-2G，具有高分辨率、高灵敏度和高采集速度的卓越性能，实现了飞行时间质谱与快速气相色谱的完美对接；性能卓越、全新配备自动进样器的液相色谱质谱联用仪LC-MS1000；为粮食重金属检测量身打造的EDX 3200S plus C智能型食品重金属快速检测仪、电感耦合等离子体发射光谱仪ICP 3000、全新一代手持式X荧光光谱仪探索者EXPLORER，创新一体式设计的EHM-X200大气重金属分析仪等明星产品也都悉数登场。

天瑞仪器承担的 “国家重大科学仪器设备开发专项”的WDX 4000顺序式波长色散X荧光光谱仪也受邀来到“国家重大科学仪器设备开发专项阶段成果展”展示区参加展示。