镀层厚度测量仪是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光镀层厚度测量技术研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。测量方便快捷，无需液氮，无需样品前处理。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的成分厚度以及电镀液金属离子浓度进行jing zhun 检测,帮助企业准确核算成本及质量guan kong。
硬件配置
高功率高压单元搭配微焦斑的X光管,较好的bao zheng 了信号输出的效率与wen ding 性。
EDX600PLUS能将不同的元素准确解析,针对多镀层与复杂合金镀层的测量,有着不可比拟的特点。
还可以搭配geng小的准直器:0.1*0.3mm,中0.15mm;中0.2mm;中0.3mm;中0.5mm等等。用chao小的准直器得到的chao小光斑,让geng小样品的测量也变得游刃有余。
设计亮点
下照式设计，一键式的按钮，较好的减少摆放样品时间。靠谱的光路系统减少了光斑的扩散，实现了对geng小产品的测试。
高分辨率可变焦摄像头，配合高性能距离补正算法，实现了对不规则样品(如凹凸面，拱形，螺纹，曲面等)的异型测试面的jing zhun 测试。
软件界面
曲线的中文备注，仪器硬件功能的实时jian kong ，让您的使用geng加放心。